In der Core Facility für Mikroskopie und Materialanalytik (CMMA) werden die wesentliche Infrastruktur zur Charakterisierung von Materialien mittels Elektronen- und Ionenmikroskopie und die damit verbundenen spektroskopischen Verfahren sowie in-situ-Prüftechnik gebündelt. Zur Verfügung stehen dazu zwei Rasterelektronenmikroskope (REM), ein Focused Ion Beam System (FIB) sowie ein Dual-Beam-System (REM-FIB-Kombination). Alle Rasterelektronenmikroskope verfügen über die Möglichkeit der Elementanalyse mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX). Weiterhin besteht die Möglichkeit, Elementanalysen mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (WDX) durchzuführen. Die Durchführung von EBSD-Messungen (Rückstreuelektronenbeugung) zur Bestimmung von Orientierungsbeziehungen, Phasenanalysen und quantitativen Gefügebeurteilungen ist ebenfalls möglich. Zur Bestimmung mechanischer Kennwerte verfügt die CMMA über ein in-situ Zug-Druck-Modul mit bis zu 5 kN Last. Weiterhin können mittels Heiztisch in-situ Experimente durchgeführt werden. Jedes der vorhandenen Geräte befindet sich in einem eigenen Labor mit entsprechenden Operator- und Präparationsarbeitsplätzen zur Probenvorbereitung. In einem separaten Präparationslabor besteht die Möglichkeit, umfangreichere Vorbereitungen (Grob- und Feintrennen, metallografische Präparation), die Fertigung von Probenhaltern oder Oberflächenmodifikationen durch Sputtern und Bedampfen mit verschiedenen Metallen vorzunehmen.