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Transmissionselektronenmikroskopie - Zentrum der Technischen Fakultät Kiel (TEM ) Als PDF speichernDruckansicht öffnen

Das TEM-Zentrum an der Technischen Fakultät der Christian-Albrechts-Universität zu Kiel bietet den Nutzern an drei Transmissionselektronenmikroskopen (TEM) sowie einem Rasterelektronenmikroskop (REM) und einem Röntgendiffraktometer (XRD) die Möglichkeit der chemischen, morphologischen und strukturellen Untersuchung von Mikro- und Nanomaterialien. Es kommen beim TEM Techniken wie Hochauflösung (HRTEM), Feinbereichs-Elektronenbeugung (SAED), energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), Lorentzmikroskopie (LTEM), Tomographie, sowie in situ-Methoden (Heizen, Kühlen, Biasing) zum Einsatz. Zusätzlich zur Mikroskopie selbst stehen auch diverse Möglichkeiten für die anspruchsvolle Probenpräparation zur Verfügung. Der wissenschaftliche Leiter des TEM-Zentrums ist in Personalunion der Inhaber der Professur "Synthese und Realstruktur", zurzeit Prof. Dr. Lorenz Kienle. Für die Organisation der laufenden Arbeiten einschließlich der Buchführung und Abrechnung ist ein TEM-Koordinator zuständig. Ein Wissenschaftler betreut das XRD sowie das REM. Ein Techniker betreut die TEM-Präparationslabore. Es besteht ein kontrollierter und transparenter Zugang zum TEM-Zentrum für prinzipiell alle Wissenschaftler der CAU.
Adresse: Kaiserstr. 2
24143  Kiel
Schleswig-Holstein
Deutschland
Zur Webseite
 
  • Träger

Technische Fakultät, Christian-Albrechts-Universität Kiel
Kaiserstr. 2
24143  Kiel
Schleswig-Holstein
Deutschland
http://www.uni-kiel.de
 
  • Wissenschaftsgebiet

Hauptgebiete:
  • Chemie
  • Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
Nebengebiete:
  • Medizin
  • Physik
  • Elektrotechnik, Informatik und Systemtechnik
 
  • Kategorie

Analytik Gerätezentren
 
  • Wissenschaftliche Dienstleistungen

Die Dienstleistungen setzen sich zusammen aus Probenpräparation, Messungen am Transmissionselektronenmikroskop, sowie Auswertung der gesammelten Daten. Messungen am TEM beinhalten: herkömmliche Hellfeldmikroskopie Hochauflösung (HRTEM + HRSTEM) Scanning TEM (STEM) in verschiedenen Modi (BF, (HA)ADF, ABF, e-ABF, SE) Feinbereichselektronenbeugung (SAED) Lorentz-Mikroskopie (LTEM) Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) Energy filtered TEM (EFTEM) Tomographie Präzessionselektronenbeugung (PED) Rasterelektronenmikroskopie (REM) Röntgendiffraktometrie (XRD)
 
  • Wissenschaftliche Geräte

  • TEM: FEI Tecnai F30 G2 STwin
  • TEM: JEOL JEM-2100
  • STEM: JEOL JEM-ARM200F NEOARM
  • REM: Zeiss Gemini 55 Ultra plus
  • XRD: Diffraktometer Rigaku
  • Ultramikrotom
  • Ionenpoliersystem PIPS
  • Diamantband-Sägen
  • Ultraschallstanzgerät
  • Dimpler
  • Elektronchemisches Dünnen
  • Schleif- und Poliermaschinen
  • Ultraschallbad
  • Plasma Cleaner
  • Stereomikroskope
 
  • Schlagworte

  • Transmissionselektronenmikroskopie
  • Materialanalytik
 
  • Netzwerke

 
  • Nutzer/Jahr

Interne Nutzer: ca. 80
Externe Nutzer gesamt: 30
Externe Nutzer in Deutschland: 20
Externe Nutzer im europ. Ausland: 5
Externe Nutzer außerhalb Europas: 5
 
 
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