Detailseite
Transmissionselektronenmikroskopie - Zentrum der Technischen Fakultät Kiel (TEM )


Das TEM-Zentrum an der Technischen Fakultät der Christian-Albrechts-Universität zu Kiel bietet den Nutzern an drei Transmissionselektronenmikroskopen
(TEM) sowie einem Rasterelektronenmikroskop (REM) und einem Röntgendiffraktometer (XRD) die Möglichkeit der chemischen, morphologischen
und strukturellen Untersuchung von Mikro- und Nanomaterialien. Es kommen beim TEM Techniken wie Hochauflösung (HRTEM), Feinbereichs-Elektronenbeugung
(SAED), energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), Lorentzmikroskopie (LTEM),
Tomographie, sowie in situ-Methoden (Heizen, Kühlen, Biasing) zum Einsatz. Zusätzlich zur Mikroskopie selbst stehen auch
diverse Möglichkeiten für die anspruchsvolle Probenpräparation zur Verfügung.
Der wissenschaftliche Leiter des TEM-Zentrums ist in Personalunion der Inhaber der Professur "Synthese und Realstruktur",
zurzeit Prof. Dr. Lorenz Kienle. Für die Organisation der laufenden Arbeiten einschließlich der Buchführung und Abrechnung
ist ein TEM-Koordinator zuständig. Ein Wissenschaftler betreut das XRD sowie das REM. Ein Techniker betreut die TEM-Präparationslabore.
Es besteht ein kontrollierter und transparenter Zugang zum TEM-Zentrum für prinzipiell alle Wissenschaftler der CAU.
Adresse: Kaiserstr. 2
24143 Kiel
Schleswig-Holstein
Deutschland
Zur Webseite
24143 Kiel
Schleswig-Holstein
Deutschland
Zur Webseite
-
Träger
Technische Fakultät, Christian-Albrechts-Universität Kiel
Kaiserstr. 2
24143 Kiel
Schleswig-Holstein
Deutschland
http://www.uni-kiel.de
Kaiserstr. 2
24143 Kiel
Schleswig-Holstein
Deutschland
http://www.uni-kiel.de
-
Wissenschaftsgebiet
Hauptgebiete:
- Chemie
- Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
Nebengebiete:
- Medizin
- Physik
- Elektrotechnik, Informatik und Systemtechnik
-
Kategorie
Analytik Gerätezentren
-
Wissenschaftliche Dienstleistungen
Die Dienstleistungen setzen sich zusammen aus Probenpräparation, Messungen am
Transmissionselektronenmikroskop, sowie Auswertung
der gesammelten Daten.
Messungen am TEM beinhalten:
herkömmliche Hellfeldmikroskopie
Hochauflösung (HRTEM + HRSTEM)
Scanning
TEM (STEM) in verschiedenen Modi (BF, (HA)ADF, ABF, e-ABF, SE)
Feinbereichselektronenbeugung (SAED)
Lorentz-Mikroskopie (LTEM)
Elektronenenergieverlustspektroskopie
(EELS)
Energy filtered TEM (EFTEM)
Tomographie
Präzessionselektronenbeugung (PED)
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Röntgendiffraktometrie
(XRD)
-
Wissenschaftliche Geräte
- TEM: FEI Tecnai F30 G2 STwin
- TEM: JEOL JEM-2100
- STEM: JEOL JEM-ARM200F NEOARM
- REM: Zeiss Gemini 55 Ultra plus
- XRD: Diffraktometer Rigaku
- Ultramikrotom
- Ionenpoliersystem PIPS
- Diamantband-Sägen
- Ultraschallstanzgerät
- Dimpler
- Elektronchemisches Dünnen
- Schleif- und Poliermaschinen
- Ultraschallbad
- Plasma Cleaner
- Stereomikroskope
-
Schlagworte
- Transmissionselektronenmikroskopie
- Materialanalytik
-
Netzwerke
-
Nutzer/Jahr
Interne Nutzer: ca. 80
Externe Nutzer gesamt: 30
Externe Nutzer in Deutschland: 20
Externe Nutzer im europ. Ausland: 5
Externe Nutzer außerhalb Europas: 5