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Institut für Festkörperphysik, Bereich Elektronenmikroskopie (IFP - Elektronenmikroskopie) Als PDF speichernDruckansicht öffnen

Die Arbeitsgruppe Elektronenmikroskopie des Instituts für Festkörperphysik beschäftigt sich mit der Entwicklung quantitativer elektronenmikroskopischer Methoden und besteht zur Zeit aus circa 10 Mitarbeitern, welche über ausgedehnte Fachkenntnisse im Bereich der Elektronenmikroskopie und der Materialwissenschaft verfügen. Als Teil des Instituts für Festkörperphysik liegt der Schwerpunkt in der Analyse halbleiterbasierter Strukturen, jedoch werden in Kooperation mit anderen universitären Gruppen auch Keramiken, Biominerale, etc. untersucht. Neben diversen Geräten zur Probenpräparation steht der Arbeitsgruppe ein FEI Nova 200 Nanolab Dualbeamsystem zur Verfügung, welches neben der Probenpräparation auch für rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen genutzt wird. Ein Phillips CM20 und das im Jahr 2008 installierte, aberrationskorrigierte FEI Titan 80-300 Transmissionselektronenmikroskop erlauben hochaufgelöste Untersuchungen im Subnanometer- bzw. Subangströmbereich. Das Titan-Mikroskop ist neben einem EDX-Detektor auch mit einem Energiefilter ausgerüstet, welche die Aufnahme von Röntgen- und Elektronenenergieverlustspektren ermöglichen.
Adresse: Otto-Hahn-Allee 1
28359  Bremen
Bremen
Deutschland
Zur Webseite
 
  • Träger

Universität Bremen
Bibliothekstraße 1
28359  Bremen
Bremen
Deutschland
http://www.uni-bremen.de/
 
  • Wissenschaftsgebiet

Hauptgebiete:
  • Physik
  • Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
Nebengebiete:
  • Biologie
  • Chemie
  • Maschinenbau und Produktionstechnik
 
  • Kategorie

Mikro- und Nanotechnologie-Zentren
 
  • Wissenschaftliche Dienstleistungen

Als langjähriger Kooperationspartner universitärer als auch industrieller Forschungs- und Entwicklungsgruppen stellt die Arbeitsgruppe Elektronenmikroskopie externen Nutzern einen breiten Fundus elektronenmikroskopischer Analysemethoden zur Verfügung. Die angebotenen Dienstleistungen reichen dabei von der Probenpräparation über die Durchführung der Messungen bis zur Auswertung und zur Zusammenstellung der Ergebnisse. Während die Messungen in der Regel von einem der qualifizierten Mitarbeiter der Arbeitsgruppe durchgeführt werden, können die Probenpräparation und die Auswertung der Daten zum Teil selbständig nach einer kurzen Einweisung erfolgen. Es ist jedoch auch eine vollständige Probencharakterisierung durch einen Mitarbeiter der AG möglich, welche Präparation, Untersuchung, Auswertung und Zusammenstellung der Ergebnisse beinhaltet. Je nach Aufgabenstellung stehen dabei ein REM/FIB-System (FEI Nova 200 Nanolab) und zwei TEM (CM20, Titan 80/300) zur Verfügung, wobei das aberrationskorrigierte Titan-Mikroskop neben (raster-)transmissionselektronenmikroskopischen auch spektroskopische Untersuchungen wie EDX oder EELS erlaubt.
 
  • Wissenschaftliche Geräte

  • FEI Titan 80-300 TEM
  • FEI Titan 80-300 STEM
  • Philips CM20 TEM
  • Tomograhie-Halter, Fischione, Model 2020
  • Doppelkipp-Heizhalter, Gatan Model 652
  • Doppelkipp-Kühlhalter, Gatan Model 636
  • FEI Nova 200 FIB
  • Gatan Model 691 PIPS
  • Technoorg Linda Model IV5 Ion Mill
  • Ditabis micron Imaging Plate Scanner
  • Labore für die TEM-Probenpräparation
  • Numerische Bildauswertung
 
  • Schlagworte

  • Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
  • Hochauflösende TEM (HRTEM)
  • Raster-TEM (STEM)
  • Hochauflösende STEM (HRSTEM)
  • Elektronenenergieverlustspektroskopie EELS
  • Energiedispersive Röntgenanalytik (EDX)
  • Elektronenholographie
  • Elektronentomographie
  • Focussed Ion Beam (FIB)
  • Ionenätzer
  • Precision Ion Polishing System (PIPS)
  • Leuchtdioden (LED)
  • Halbleiter
  • Elektronenoptik
  • Festkörperforschung
 
  • Netzwerke

 
  • Nutzer/Jahr

Interne Nutzer: 7 interne Nutzer
Externe Nutzer gesamt: 5
Externe Nutzer in Deutschland: 4
Externe Nutzer im europ. Ausland: 0
Externe Nutzer außerhalb Europas: 1
 
 
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